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  • 砷化鎵磷化銦三五族化合物電阻率測(cè)試
    砷化鎵磷化銦三五族化合物電阻率測(cè)試

    與當(dāng)前市場(chǎng)上成熟且廣泛應(yīng)用的硅基半導(dǎo)體不同,化合物半導(dǎo)體是由三五族 (Group III and V)、二六族 (Group II and VI) 或同樣來源于第四族 (Group IV) 的兩個(gè)及以...

  • 砷化鎵磷化銦電阻率標(biāo)準(zhǔn)片
    砷化鎵磷化銦電阻率標(biāo)準(zhǔn)片

    與當(dāng)前市場(chǎng)上成熟且廣泛應(yīng)用的硅基半導(dǎo)體不同,化合物半導(dǎo)體是由三五族 (Group III and V)、二六族 (Group II and VI) 或同樣來源于第四族 (Group IV) 的兩個(gè)及以...

  • TCO薄膜玻璃方阻測(cè)試儀
    TCO薄膜玻璃方阻測(cè)試儀

    TCO導(dǎo)電玻璃是一種在玻璃表面通過物理或化學(xué)方法鍍上一層透明導(dǎo)電氧化物薄膜的功能材料,主要成分為氟摻雜氧化錫(SnO2:F),具有透光導(dǎo)電特性。其核心性能指標(biāo)包括透光率與方阻值的綜合參數(shù)FTC值,需滿...

  • TCO膜薄膜方阻測(cè)試系統(tǒng)
    TCO膜薄膜方阻測(cè)試系統(tǒng)

    TCO導(dǎo)電玻璃是一種在玻璃表面通過物理或化學(xué)方法鍍上一層透明導(dǎo)電氧化物薄膜的功能材料,主要成分為氟摻雜氧化錫(SnO2:F),具有透光導(dǎo)電特性。其核心性能指標(biāo)包括透光率與方阻值的綜合參數(shù)FTC值,需滿...

  • 非接觸霍爾效應(yīng)測(cè)試儀
    非接觸霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

    非接觸霍爾測(cè)試儀是一種基于霍爾效應(yīng)原理設(shè)計(jì)的測(cè)量設(shè)備,主要用于檢測(cè)磁場(chǎng)強(qiáng)度、電流、位移等物理量,而無需與被測(cè)物體直接接觸,其核心部件是霍爾傳感器,通過感應(yīng)磁場(chǎng)變化輸出電信號(hào),具有高精度、快速響應(yīng)和抗干...

  • 非接觸霍爾測(cè)試系統(tǒng)
    非接觸霍爾測(cè)試系統(tǒng)

    非接觸霍爾測(cè)試儀是一種基于霍爾效應(yīng)原理設(shè)計(jì)的測(cè)量設(shè)備,主要用于檢測(cè)磁場(chǎng)強(qiáng)度、電流、位移等物理量,而無需與被測(cè)物體直接接觸,其核心部件是霍爾傳感器,通過感應(yīng)磁場(chǎng)變化輸出電信號(hào),具有高精度、快速響應(yīng)和抗干...

  • 少數(shù)載流子壽命測(cè)試
    少數(shù)載流子壽命測(cè)試

    載流子壽命就是指非平衡載流子的壽命。而非平衡載流子一般也就是非平衡少數(shù)載流子(因?yàn)橹挥猩贁?shù)載流子才能注入到半導(dǎo)體內(nèi)部、并積累起來,多數(shù)載流子即使注入進(jìn)去后也就通過庫侖作用而很快地消失了),所以非平衡載...

  • 手持式非接觸晶錠晶棒電阻率測(cè)試儀
    手持式非接觸晶錠晶棒電阻率測(cè)試儀

    手持式電阻測(cè)試儀是用于現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)量電阻值的便攜設(shè)備,適用于電力、工業(yè)及電池檢測(cè)等領(lǐng)域?,其核心功能包括絕緣電阻、直流電阻或回路電阻的精準(zhǔn)測(cè)量,測(cè)量范圍覆蓋微歐級(jí)(μΩ)至兆歐級(jí)(MΩ),精度可達(dá)...

  • 硅棒晶棒晶錠BCT400少子壽命測(cè)試儀
    硅棒晶棒晶錠BCT400少子壽命測(cè)試儀

    是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測(cè)量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測(cè)量模式。該設(shè)備可探測(cè)3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實(shí)現(xiàn)低電阻...

  • 非接觸方阻-霍爾遷移率一體機(jī)
    非接觸方阻-霍爾遷移率一體機(jī)

    “方阻霍爾遷移率”這一表述通常指的是在半導(dǎo)體材料電學(xué)特性測(cè)量中,同時(shí)或關(guān)聯(lián)地獲取?方塊電阻(方阻)?和?霍爾遷移率?這兩個(gè)關(guān)鍵參數(shù)。它們是表征材料導(dǎo)電性能的核心指標(biāo),常通過霍爾效應(yīng)測(cè)量技術(shù)聯(lián)合獲得。?...

  • 鋰電ITO薄膜非接觸方阻測(cè)試儀
    鋰電ITO薄膜非接觸方阻測(cè)試儀

    在太陽能電池的沉積工藝中,制備高性能的ITO薄膜是其首要任務(wù)。電池廠商在制備ITO薄膜時(shí),往往需要考慮自身的方阻與影響ITO薄膜方阻的因素,從而在了解的基礎(chǔ)上更好的解決對(duì)ITO薄膜方阻有不利影響的因素...

  • 非接觸紅外少子壽命WCT120測(cè)試儀
    非接觸紅外少子壽命WCT120測(cè)試儀

    公司生產(chǎn)的一款專業(yè)用于測(cè)量硅片等半導(dǎo)體材料少子壽命的測(cè)試儀器,?廣泛應(yīng)用于太陽能電池制造、半導(dǎo)體材料質(zhì)量評(píng)估及工藝監(jiān)控領(lǐng)域?。其核心功能是通過準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)和瞬態(tài)光電導(dǎo)技術(shù),精確測(cè)量少數(shù)載...

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