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非接觸方阻測試儀測試過程簡單快速,提高了生產(chǎn)效率
2026-05-20
渦流法電阻率測試儀在新材料的研發(fā)過程中的應(yīng)用
2026-01-30
2026-01-27
2025-08-28
2025-07-17
產(chǎn)品中心/ products
與當前市場上成熟且廣泛應(yīng)用的硅基半導(dǎo)體不同,化合物半導(dǎo)體是由三五族 (Group III and V)、二六族 (Group II and VI) 或同樣來源于第四族 (Group IV) 的兩個及以...
與當前市場上成熟且廣泛應(yīng)用的硅基半導(dǎo)體不同,化合物半導(dǎo)體是由三五族 (Group III and V)、二六族 (Group II and VI) 或同樣來源于第四族 (Group IV) 的兩個及以...
TCO導(dǎo)電玻璃是一種在玻璃表面通過物理或化學(xué)方法鍍上一層透明導(dǎo)電氧化物薄膜的功能材料,主要成分為氟摻雜氧化錫(SnO2:F),具有透光導(dǎo)電特性。其核心性能指標包括透光率與方阻值的綜合參數(shù)FTC值,需滿...
TCO導(dǎo)電玻璃是一種在玻璃表面通過物理或化學(xué)方法鍍上一層透明導(dǎo)電氧化物薄膜的功能材料,主要成分為氟摻雜氧化錫(SnO2:F),具有透光導(dǎo)電特性。其核心性能指標包括透光率與方阻值的綜合參數(shù)FTC值,需滿...
非接觸霍爾測試儀是一種基于霍爾效應(yīng)原理設(shè)計的測量設(shè)備,主要用于檢測磁場強度、電流、位移等物理量,而無需與被測物體直接接觸,其核心部件是霍爾傳感器,通過感應(yīng)磁場變化輸出電信號,具有高精度、快速響應(yīng)和抗干...
非接觸霍爾測試儀是一種基于霍爾效應(yīng)原理設(shè)計的測量設(shè)備,主要用于檢測磁場強度、電流、位移等物理量,而無需與被測物體直接接觸,其核心部件是霍爾傳感器,通過感應(yīng)磁場變化輸出電信號,具有高精度、快速響應(yīng)和抗干...
載流子壽命就是指非平衡載流子的壽命。而非平衡載流子一般也就是非平衡少數(shù)載流子(因為只有少數(shù)載流子才能注入到半導(dǎo)體內(nèi)部、并積累起來,多數(shù)載流子即使注入進去后也就通過庫侖作用而很快地消失了),所以非平衡載...
手持式電阻測試儀是用于現(xiàn)場快速測量電阻值的便攜設(shè)備,適用于電力、工業(yè)及電池檢測等領(lǐng)域?,其核心功能包括絕緣電阻、直流電阻或回路電阻的精準測量,測量范圍覆蓋微歐級(μΩ)至兆歐級(MΩ),精度可達...
是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準穩(wěn)態(tài)兩種測量模式。該設(shè)備可探測3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實現(xiàn)低電阻...
“方阻霍爾遷移率”這一表述通常指的是在半導(dǎo)體材料電學(xué)特性測量中,同時或關(guān)聯(lián)地獲取?方塊電阻(方阻)?和?霍爾遷移率?這兩個關(guān)鍵參數(shù)。它們是表征材料導(dǎo)電性能的核心指標,常通過霍爾效應(yīng)測量技術(shù)聯(lián)合獲得。?...
在太陽能電池的沉積工藝中,制備高性能的ITO薄膜是其首要任務(wù)。電池廠商在制備ITO薄膜時,往往需要考慮自身的方阻與影響ITO薄膜方阻的因素,從而在了解的基礎(chǔ)上更好的解決對ITO薄膜方阻有不利影響的因素...
公司生產(chǎn)的一款專業(yè)用于測量硅片等半導(dǎo)體材料少子壽命的測試儀器,?廣泛應(yīng)用于太陽能電池制造、半導(dǎo)體材料質(zhì)量評估及工藝監(jiān)控領(lǐng)域?。其核心功能是通過準穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)和瞬態(tài)光電導(dǎo)技術(shù),精確測量少數(shù)載...
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