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非接觸方阻測試儀測試過程簡單快速,提高了生產(chǎn)效率
2026-05-20
渦流法電阻率測試儀在新材料的研發(fā)過程中的應(yīng)用
2026-01-30
2026-01-27
2025-08-28
2025-07-17
產(chǎn)品中心/ products
渦流法?電阻率方阻是一種利用電磁感應(yīng)原理進行檢測的方法。當(dāng)載有交變電流的試驗線圈靠近導(dǎo)體工件時,會產(chǎn)生交變磁場,進而在工件中感生出密閉的環(huán)狀電流,即渦流。渦流的大小、相位及流動形式受到工件性質(zhì)(如電導(dǎo)...
設(shè)備主要利用渦電流測試原理,非接觸測試半導(dǎo)體材料,石墨烯,透明導(dǎo)電膜,碳納米管,金屬等材料的方阻(電阻率)。可實現(xiàn)單點測試,亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能,可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質(zhì)量控制
PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產(chǎn)力的一個因素,因為它關(guān)系到每個硅塊所生產(chǎn)出的硅片數(shù)量。超薄的硅片給線鋸技術(shù)提出了額外的挑戰(zhàn),因為其生產(chǎn)過程要困難得多。除了硅片的機械脆性以外,如果...
我司主營:晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,遷移率少子壽命測試儀。
渦流法電阻率測試儀的樣品尺寸:2“-8“或者16mm×16mm的方形樣品;遷移率測量范圍:100-20000(cm2/v.sec);方塊電阻測量范圍:100-3000(ohm/sq);載流子...
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,提供一整套完整測試和解決方案。
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,提供一整套完整測試和解決方案。
主營產(chǎn)品:晶圓方阻測試儀、晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,測試硅片,碳化硅、科研大學(xué)提供服務(wù)。
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